Určovanie teplotnej stability chalkogénnych skiel systému Ge/As - Se - Te dopovaných prvkami vzácnych zemín pomocou elektrických metód : Diplomová práca
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Trnava :
STU v Bratislave MtF KMI,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Určovanie teplotnej stability chalkogénnych skiel systému Ge/As - Se - Te dopovaných prvkami vzácnych zemín pomocou elektrických metód :
- Učebný text: Vlastnosti chalkogénnych skiel, ich príprava a použitie : Záverečná práca
- Elektrické a dielektrické vlastnosti skiel systému Ge-Se-Te-Ho
- Bezolovnaté spájky s malým obsahom vzácnych zemín
- Bezolovnaté spájky s malým obsahom vzácnych zemín
- Možnosti elektrických meraní pri určovaní vybraných optických vlastností chalkogénnych skiel = Resources of electrical measures by taking chosed optical properties of chalcogenic glasses : Bakalárska práca
- Spájkovanie bezolovnatými spájkami s prísadami prvkov vzácnych zemín