Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Meranie vybraných dynamických parametrov polovodičových fotodetektorov
- Optické meranie hrúbok epitaxných vrstiev rastených metódou molekulárnej zväzkovej epitaxie (MBE) : Dipl.práca
- Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
- Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT štruktúr na báze GaN/AlxGa1-xN/GaN/AlxGa1-xN/AlN