Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Meranie vybraných dynamických parametrov polovodičových fotodetektorov
- Optické meranie hrúbok epitaxných vrstiev rastených metódou molekulárnej zväzkovej epitaxie (MBE) : Dipl.práca
- Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
- Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT štruktúr na báze GaN/AlxGa1-xN/GaN/AlxGa1-xN/AlN