Style de citation APA (7e éd.)
Sachdev, M. (1998). Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Dordrecht: Kluwer Academic Publishers, 1998.
Style de citation MLA (9e éd.)
Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1998.
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