Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách : dátum obhajoby 15.12.2020

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Šovčík, Michal (Auteur)
Autres auteurs:	Stopjaková, Viera (Directeur de thèse)
Format:	Manuscrit Livre
Langue:	slovaque
Publié:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Sujets:	spoľahlivosť IO výťažnosť výroby IO PVTA rozptyl plne diferenciálny operačný zosilňovač ofset vstupného napätia systémy spojité v čase nízke THD ultra-nízky príkon autonómnosť digitálna kalibrácia analógových IO digital calibration of analog IC PVTA variations reliability of IC low THD ultra-low power yield of IC fabrication input offset voltage continuous-time systems autonomy fully differential operational amplifier
Accès en ligne:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137895
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

View in STU Opac

Documents similaires: Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách :