Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách : dátum obhajoby 15.12.2020
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2020
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137895 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách :
- Príspevok k ultra nízkonapäťovým a nízkopríkonovým systémom na čipe
- Návrh sigma-delta prevodníka s ultra-nízkym napájacím napätím v nanometrovej CMOS technológii
- Rozvoj metód návrhu nízkopríkonových IO a získavania energie priamo na čipe : dát. obhaj. 28.11.2016, č. ved. odboru 5-2-13
- Návrh snímacieho rozhrania v CMOS technológii pre odporový senzor
- Teplotná charakterizácia polovodičovych prvkov a obvodov
- Webová platforma pre analýzu dát z IIOT snímačov