Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN

Na minha lista:
Autor principal: Činčurak, Darko (Author)
Outros Autores: Drobný, Jakub (Thesis advisor)
Formato: Manuscrito Livro
Idioma:eslovaco
Publicado em: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Assuntos:
HEMT
GaN
Defekty
Spektroskopia hlbokých hladín
Deep Level Transient spectroscopy
Defects
Acesso em linha:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=8E0A01F6D74C9FCBC64FEE1E231C&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp70581
003 SK-STU
005 20200902110749.7
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Činčurak, Darko  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 80565  |U E030  |Y 549  |7 80565 
242 0 1 |a Identification of defects in semiconductor structures based on AlGaN/GaN  |y eng 
245 1 0 |a Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN 
260 |c Bratislava :  |c STU v Bratislave FEI,  |c 2020 
300 |a 50 s. 
650 4 |a HEMT  |2 slo 
650 4 |a GaN  |2 slo 
650 4 |a Defekty  |2 slo 
650 4 |a Spektroskopia hlbokých hladín  |2 slo 
650 4 |a GaN  |2 eng 
650 4 |a Deep Level Transient spectroscopy  |2 eng 
650 4 |a HEMT  |2 eng 
650 4 |a Defects  |2 eng 
700 1 |a Drobný, Jakub  |u 033000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 72627  |U E030  |Y 549  |7 72627 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=8E0A01F6D74C9FCBC64FEE1E231C&seo=CRZP-detail-kniha 

Registos relacionados