Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu

Na minha lista:

Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Petrusová, Soňa (Author)
Outros Autores:	Kováč, Jaroslav (Thesis advisor)
Formato:	Manuscrito Livro
Idioma:	eslovaco
Publicado em:	2019
Assuntos:	AFM artefakty meranie kalibračných mriežok a merania na pečiatke artifacts measurements of the calibration grid adn measurements of the stamp
Acesso em linha:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=140976
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp71482
003	SK-STU
005	20190706210938.4
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
100	1		\|a Petrusová, Soňa \|u 033000 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 86397 \|U E030 \|Y 549 \|7 86397
242	0	1	\|a Analysys of materials surface using atomic force microscope \|y eng
245	1	0	\|a Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu
260			\|c 2019
650		4	\|a AFM \|2 slo
650		4	\|a artefakty \|2 slo
650		4	\|a meranie kalibračných mriežok a merania na pečiatke \|2 slo
650		4	\|a AFM \|2 eng
650		4	\|a artifacts \|2 eng
650		4	\|a measurements of the calibration grid adn measurements of the stamp \|2 eng
700	1		\|a Kováč, Jaroslav \|u 033000 \|k Z1 \|4 ths \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 42526 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000042526
856	4		\|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=140976