Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Vu Viet, Hoang (Autor)
Ďalší autori:	Benko, Peter (Vedúci práce)
Médium:	Rukopis Kniha
Jazyk:	Slovak
Vydavateľské údaje:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Predmet:	výkonový tranzistor UIS test energetická odolnosť automatizované testovanie MOSFET UIS ruggedness test automated testing system power transistor
On-line prístup:	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

View in STU Opac

Internet