Analýza teplotného profilu čipov výkonových prvkov pomocou termokamery

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Vančo, Marek (Autor)
Otros Autores: Kováč, Jaroslav (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Materias:
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=201CE56335A527AB000E92791929&seo=CRZP-detail-kniha
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp78032
003 SK-STU
005 20200731101827.0
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Vančo, Marek  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 80710  |U E030  |Y 549  |7 80710 
242 0 1 |a Analysys of temperature distribution of power devices dies using thermal camera  |y eng 
245 1 0 |a Analýza teplotného profilu čipov výkonových prvkov pomocou termokamery 
260 |c Bratislava :  |c STU v Bratislave FEI,  |c 2020 
300 |a 56 s. 
650 4 |a Elektromagnetické žiarenie  |2 slo 
650 4 |a teplotná analýza  |2 slo 
650 4 |a termokamera  |2 slo 
650 4 |a LWIR  |2 slo 
650 4 |a Electromagnetic radiation  |2 eng 
650 4 |a thermal analysis  |2 eng 
650 4 |a thermal camera  |2 eng 
650 4 |a LWIR  |2 eng 
700 1 |a Kováč, Jaroslav  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 42526  |U E030  |Y 549  |7 A000042526 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=201CE56335A527AB000E92791929&seo=CRZP-detail-kniha