Meracie pracovisko charakterizácie parametrov elektronických prvkov pri zvýšených teplotách do 250°C
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E9234CD39F9648&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Meracie pracovisko charakterizácie parametrov elektronických prvkov pri zvýšených teplotách do 250°C
- Využitie nových organických polovodičov pre prvky organickej elektroniky
- Optická frekvenčná reflektometria
- Electrical and Optical Characterization of Progressive Light-Emitting Diodes : dát. obhaj. 25.8.2017, č. ved. odb. 5-2-13
- Návrh a príprava meracieho pracoviska pre testovanie spoľahlivosti výkonových prvkov
- Vývoj metodiky skenovacieho merania pôdy pre účely charakterizácie a uvoľňovania lokality do životného prostredia : dátum obhajoby 20.8.2025
- Pracovisko na charakterizáciu nestabilít výkonových polovodičových prvkov