Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN