Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie kvality progresívnych polovodičových prvkov pre výkonové aplikácie
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN