Autonómna digitálna kalibrácia analógových IO na čipe

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Maljar, David (Auteur)
Autres auteurs: Stopjaková, Viera (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2024
Sujets:
Accès en ligne:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildY8I4I&sid=98506E6D5B5CDF253A8F8755F29B&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp81985
003 SK-STU
005 20241212102832.1
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Maljar, David  |u 033000  |k Z8  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 80593  |U E030  |Y 549  |7 80593 
242 0 1 |a Autonomous on-chip digital calibration of analog integrated circuits  |y eng 
245 1 0 |a Autonómna digitálna kalibrácia analógových IO na čipe 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2024 
300 |a 163 s., príl. 
650 4 |a Digitálna kalibrácia  |2 slo 
650 4 |a Nízkonapäťová návrh  |2 slo 
650 4 |a PVT variácie  |2 slo 
650 4 |a Degradácia parametrov  |2 slo 
650 4 |a CMOS  |2 slo 
650 4 |a Digital Calibration  |2 eng 
650 4 |a Low-Voltage Design  |2 eng 
650 4 |a PVT Variations  |2 eng 
650 4 |a Parameter Degradation  |2 eng 
650 4 |a CMOS  |2 eng 
700 1 |a Stopjaková, Viera  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1939  |U E030  |Y 549  |7 A000001939 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildY8I4I&sid=98506E6D5B5CDF253A8F8755F29B&seo=CRZP-detail-kniha