Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildQIAI2&sid=B9F89BDF2FCAC708572C514B24F4&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Mikroštrukturálna charakterizácia Ga2O3 vrstiev s ohľadom pre ich využitie ako širokopásmového polovodiča pre vývoj nových výkonových elektronických súčiastok
- Analýza guľových čapov poškodených pri nitovaní
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
- Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
- Hodnotenie mikroštruktúry viacvrstvového návaru vyrobeného aditívnou výrobou z niklovej zliatiny
- Analýza tvorby obrazu v svetelnej mikroskopii a transmisnej elektrónovej mikroskopii = Analysis of forming of image in light microscopy and transmission electron microscopy : Diplomová práca
- Úvod do transmisní elektronové mikroskopie