Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Valkay, Gabriel (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Valent, Peter, 1979- (Betreuung Doktorarbeit), Písečný, Pavol (Betreuung Doktorarbeit), Harmatha, Ladislav, 1948- (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Slowakisch
Veröffentlicht:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2006
Schlagworte:	elektronika Mikroelektronika
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu138442
005	20150617225921.5
008	070301s2006------------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
100	1		\|a Valkay, Gabriel \|4 aut \|u E \|T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|U E \|Y 30
245	1		\|a Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2006
300			\|a 59 s
650		7	\|a elektronika \|2 stusub
650		7	\|a Mikroelektronika \|2 stusub
700	1		\|a Valent, Peter, \|d 1979- \|4 ths \|u E210 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Katedra mikroelektroniky \|X 10156 \|U E210 \|Y 68 \|7 A000010156
700	1		\|a Písečný, Pavol \|4 ths
700	1		\|a Harmatha, Ladislav, \|d 1948- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 2055 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000002055