Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , , |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2006
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Analýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou
- Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Nestabilitní jevy v soustavách s tenkými dielektrickými vrstvami : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 10.05.1970 /
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Diagnostika štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu