Testovanie a lokalizácia defektných částí zmiešaných integrovaných obvodov pomocou vstavaného IDD prúdového monitora : Č.ved.odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.5.2008
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2008
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Testovanie a lokalizácia defektných částí zmiešaných integrovaných obvodov pomocou vstavaného IDD prúdového monitora :
- Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe : Obh. 09.09.2003
- Príspevky k teórii logických obvodov : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
- On-chip power supply current monitoring of CMOS VLSI circuits = Testovanie CMOS VLSI obvodov monitorovaním prúdu z napájacieho zdroja priamo na čípe : Dizertačná práca : Obh. 22.05.1997 /
- Využitie analógových integrovaných obvodov /
- Porovnávacie tabuľky číslicových integrovaných obvodov /
- Logic synthesis for Asynchronous Controllers and Interfaces /