Testovanie a lokalizácia defektných částí zmiešaných integrovaných obvodov pomocou vstavaného IDD prúdového monitora : Č.ved.odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.5.2008
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2008
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!