Diagnostika štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2008
|
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Diagnostika štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Meranie teplotných závislostí rezistivity tenkých vrstiev Ru-SiO pre pokročilú CMOS technológiu
- Diagnostika štruktúr MOS vodivostnou metódou
- Charakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku