Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects : Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Sumega, Miroslav (Autor)
Ďalší autori: Áč, Vladimír (Vedúci práce)
Médium: Rukopis Kniha
Vydavateľské údaje: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
Predmet:
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Podobné jednotky: Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects :