Surface and Interface Analysis : ECASIA 91 : Konf. Proceedings of the European Coference on Aplications of Surface and Interface Analysis, Budapest, Hungary, 14.- 18. Oct. 1991
Uložené v:
| Médium: | Kniha |
|---|---|
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Chichester :
John Wiley & Sons,
1992
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Surface and Interface Analysis :
- Thermal degradation of ZnO/InP interfaces: heteroepitaxial growth of precipitated indium on InP {111} planes = Tepelná degradácia rozhraní ZnO/InP" preferovaný rast precipitovaného india na rovinách InP {111} : Diz.práca : Obh. 03.07.1996 /
- Solid Surfaces, Interfaces and Thin Films
- Semiconductor surfaces and interfaces /
- Metallurgical coatings 1987 : Proceedings : Konf. San Diego, USA, 23.- 27. March 1987 /
- Langmuir-Blodgettovej vrstvy elektrické vlastnosti : Obhajoba 06.02.2001
- Semiconductor interfaces, microstructures and devices: properties and applications /