Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | VAIS |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
- Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Štúdium nanočastíc pomocou rtg difrakcie
- Štruktúrna analýza základných materiálov pomocou rtg difrakcie
- Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách