Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Novák, Patrik (Autor)
Ďalší autori:	Dobročka, Edmund (Vedúci práce)
Médium:	Rukopis Kniha
Jazyk:	Slovak English
Vydavateľské údaje:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2017
Predmet:	ZnO rtg (difrakčný) napäťový faktor lom rtg žiarenia zvyškové napätie metóda šikmého dopadu rtg difrkacie textúra residual stress grazing incidence X-ray diffraction texture X-ray stress factors Refraction of X-rays
On-line prístup:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

View in STU Opac

Internet