Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF UMAT,
2013
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | VAIS |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Analýza materiálov pre pokročilé jadrové reaktory
- Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
- Röntgenoštruktúrny výskum kryštalických látok
- Pokročilá identifikácia a kontrola čistoty komplexov so známou kryštálovou štruktúrou práškovou difrakčnou analýzou