Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF UMAT,
2013
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | VAIS |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Analýza materiálov pre pokročilé jadrové reaktory
- Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
- Röntgenoštruktúrny výskum kryštalických látok
- Pokročilá identifikácia a kontrola čistoty komplexov so známou kryštálovou štruktúrou práškovou difrakčnou analýzou