Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF UMAT,
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | VAIS |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Analýza materiálov pre pokročilé jadrové reaktory
- Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
- Röntgenoštruktúrny výskum kryštalických látok
- Pokročilá identifikácia a kontrola čistoty komplexov so známou kryštálovou štruktúrou práškovou difrakčnou analýzou