Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Rendek, Karol, 1985- (Autore)
Altri autori:	Šatka, Alexander, 1960- (Relatore della tesi)
Natura:	Manoscritto Libro
Lingua:	slovacco
Pubblicazione:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2014
Soggetti:	Mikroelektronika Microelectronics
Accesso online:	VAIS
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu296341
005	20230412135017.3
008	140903s2014----xo------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Rendek, Karol, \|d 1985- \|4 aut \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 11958 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000011958
242	0	0	\|a Noise analysis of GaN HEMTs \|y eng
245	1		\|a Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : \|b dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2014
300			\|a 97 s \|c AUTOREF. 2014, 25 s.
650		7	\|a Mikroelektronika \|2 stusub
650		7	\|a Microelectronics \|2 estusub
700	1		\|a Šatka, Alexander, \|d 1960- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 1865 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000001865
856	4		\|a info a plný text \|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113930 \|3 VAIS
996			\|b 284ED01462 \|c E*ZP-335 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stu296341_0001