Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe : Obh. 09.09.2003
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe :
- On-chip power supply current monitoring of CMOS VLSI circuits = Testovanie CMOS VLSI obvodov monitorovaním prúdu z napájacieho zdroja priamo na čípe : Dizertačná práca : Obh. 22.05.1997 /
- Testovanie a lokalizácia defektných částí zmiešaných integrovaných obvodov pomocou vstavaného IDD prúdového monitora : Č.ved.odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.5.2008
- Logic synthesis for Asynchronous Controllers and Interfaces /
- Príspevky k teórii logických obvodov : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
- Analogue - digital ASICs : circuit techniques, design tools and applications /
- Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits /