Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe : Obh. 09.09.2003
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
| Fyzický popis: | 106 s |
|---|