Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak English |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu :
- Charakterizácia materiálov pre fúzne reaktory pomocou GIXRD
- In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending
- Vysokopresné metódy obrábania povrchov RTG kryštálovej optiky
- Riešenie kryštálovej štrúktury komplexov chinolónov metódami difrakcie RTG žiarenia
- Hydrometalurgické získavanie striebra z použitých rtg snímkov
- RTG kontrola zvarových spojov v petrochemickom priemysle