Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco inglés |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2017
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792 |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu :
- Charakterizácia materiálov pre fúzne reaktory pomocou GIXRD
- In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending
- Vysokopresné metódy obrábania povrchov RTG kryštálovej optiky
- Riešenie kryštálovej štrúktury komplexov chinolónov metódami difrakcie RTG žiarenia
- Hydrometalurgické získavanie striebra z použitých rtg snímkov
- RTG kontrola zvarových spojov v petrochemickom priemysle