Vyšetrovanie reziduálnych napätí v tenkých vrstvách mikrorozmerného bolometra
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
2017
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130910 |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Vyšetrovanie reziduálnych napätí v tenkých vrstvách mikrorozmerného bolometra
- Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
- Automatizované pracovisko na meranie optickej odozvy bolometrických materiálov
- RTG analýza priebehu zvyškových napätí na valivých telieskach veľkorozmerných ložísk
- Vizualizácia algoritmov na elimináciu reziduálnych kmitov
- Metódy on-line eliminácie reziduálnych kmitov : dát.obhaj. 9.4.2010, č.ved.odb. 38-01-9
- Dynamická a pevnostná analýza nôh štvornohého robota