Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
2018
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=124007 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Vplyv elektrického namáhania na distribúciu porúch v TrenchMOS na báze SiC
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín