Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=EAE7EF6B68A1C52649C21346D593&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovho mikroskopu
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach pre výkonovú elektroniku
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Elektrická charakterizácia štruktúr na báze progresívnych polovodičových materiálov : dát. obhaj. 11.8.2015, č. ved. odb. 5-2-13
- Analýza vlastností materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu
- Vplyv parametrov prípravy kompozitu Si3N4+SiC na jeho vybrané vlastnosti