Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
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| Format: | Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Dordrecht :
Springer Verlag,
2006
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| Sujets: | |
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| Description matérielle: | 492 s |
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| ISBN: | 1-4020-4365-1 |