A unified approach for timing verification and delay faut testing

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Auteurs principaux: Sivaraman, Mukund (Auteur), Strojwas, Andrzej J. (Auteur)
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1998
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Description
Description matérielle:155 s
ISBN:0-7923-8079-7