Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits
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| Autor principal: | |
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| Formato: | Livro |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
Dordrecht :
Kluwer Academic Publishers,
1998
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| Assuntos: | |
| Tags: |
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| Descrição Física: | 308 s |
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| ISBN: | 0-7923-8083-5 |