Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures : dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak English |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130779 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures :
- Tunable resonant cavity enhanced photodetectors : Diz.práca: Obh. 22.12.1999
- Sledovanie emisných a záchytných procesov v InGaAsN/GaAs heteroštruktúrach
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Vplyv koncentrácie dusíka na kvalitu GaAsN štruktúr pre fotovoltické aplikácie
- Robustné senzory tlaku na báze AlGaN/GaN HEMT pre vysokoteplotné aplikácie : dát. obhaj. 23.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Dynamická simulácia MEMS piezoelektrického tlakového senzora