Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023

Salvato in:
Autore principale: Kozárik, Jozef (Autore)
Altri autori: Marek, Juraj (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
Pubblicazione: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Soggetti:
GaN HEMT
SiC MOSFET
UIS test
SC test
degradácia
degradation
Accesso online:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha
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Descrizione del documento:Len v elektronickej podobe
Descrizione fisica:117 s., Autoref. 2023, 54 s.

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