Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom :
- Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Charakterizácia výkonových elektronických prvkov a meranie energetickej odolnosti pomocou UIS testu
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Úprava zariadenia pre UIS testovanie
- Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov