Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023

Saved in:
Main Author: Kozárik, Jozef (Author)
Other Authors: Marek, Juraj (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Subjects:
GaN HEMT
SiC MOSFET
UIS test
SC test
degradácia
degradation
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Be the first to leave a comment!
You must be logged in first

Similar Items