Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023

Guardado en:
Autor principal: Kozárik, Jozef (Autor)
Otros Autores: Marek, Juraj (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Materias:
GaN HEMT
SiC MOSFET
UIS test
SC test
degradácia
degradation
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha
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