In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak English |
| Vydavateľské údaje: |
2018
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=138503 |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending
- Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Structure and properties of transition metal complexes with N,O-chelating ligands and potential enzymatic activity
- Štúdium nanočastíc pomocou rtg difrakcie
- Porovnanie kryštalografickej textúry liatej a tvárnenej zliatiny na báze Zn