In-situ XRD analysis of stress evolution in the hot dip wire coating during bending

Guardado en:
Autor principal: Bandúr, Andrej (Autor)
Otros Autores: Kusý, Martin (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
inglés
Publicado: 2018
Materias:
rtg difrakcia
vývoj napätí
analýza
analysis
stress evolution
x-ray diffraction
Acceso en línea:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=138503
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