Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch Englisch |
| Veröffentlicht: |
2019
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238 |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
- Príprava a charakterizácia supravodivých a manganitových tenkých vrstiev
- Bytový dom
- Meranie hodnôt prúdu iónového zväzku s mimoriadne vysokou mierou bezpečnosti a spoľahlivosti
- Hole Channel GaN-based Transistor for Power Electronics : dátum obhajoby 23.8.2023
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Optimalizácia ohmických kontaktov pre InAlN/GaN tranzistory