Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque anglais |
| Publié: |
2019
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238 |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
- Príprava a charakterizácia supravodivých a manganitových tenkých vrstiev
- Bytový dom
- Meranie hodnôt prúdu iónového zväzku s mimoriadne vysokou mierou bezpečnosti a spoľahlivosti
- Hole Channel GaN-based Transistor for Power Electronics : dátum obhajoby 23.8.2023
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Optimalizácia ohmických kontaktov pre InAlN/GaN tranzistory