Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco inglês |
| Publicado em: |
2019
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238 |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
- Príprava a charakterizácia supravodivých a manganitových tenkých vrstiev
- Bytový dom
- Meranie hodnôt prúdu iónového zväzku s mimoriadne vysokou mierou bezpečnosti a spoľahlivosti
- Hole Channel GaN-based Transistor for Power Electronics : dátum obhajoby 23.8.2023
- Modelovanie robustného senzora tlaku na báze progresívnych polovodičových materiálov
- Optimalizácia ohmických kontaktov pre InAlN/GaN tranzistory