Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2022
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=4F55101800366CEF54FDC3DB109A&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Effect of different Si doping on the defects distribution in the GaN-based structures
- Skúmanie kvality polovodičových štruktúr na báze InAlGaN/GaN
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
- Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre 5G sieť