Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu

Gespeichert in:
1. Verfasser: Špánik, Patrik Ján (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Marek, Juraj (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Schlagworte:
SiC
SiC MOSFET
Skrat
UIS test
Tranzistor
Polovodič
Short circuit
Transistor
Semiconductor
Online-Zugang:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha
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