Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Návrh a realizácia obvodu pre testovanie SC odolnosti výkonových tranzistorov
- Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module
- Zmáčavosť a interakcia špeciálnych zliatin s využitím ohrevu elektrónového lúča