Charakterizácia MOS heteroštruktúr na báze GaN pre bezpečné obohacovacie tranzistory

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Válik, Lukáš (Auteur)
Autres auteurs: Harmatha, Ladislav (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: 2015
Sujets:
Accès en ligne:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=111662
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